产品介绍

• 是否支持加工定制：是
• 是否进口：是
• 测量范围：36N
• 测量时间：2s
• 测量重复性：0.02％
• 尺寸：21.5cm
• 电源：40V
• 工作温度：-20℃ ~50℃
• 规格：215mm x 241mm x 61mm
• 类型：X荧光光谱仪
• 品种：XRF
• 适用范围：金属元素分析
• 型号：X-50
• 重量：1.5kg
• 产地：美国
• 探测器：大面积SDD探测器
• 分析环境：环境温度：-20℃ ~50℃，环境湿度：10％~90％
• 操作系统：Android
• 存储卡：16GB 存储
• 数据传输：蓝牙、USB 接口或 Wifi 无线
• 操作方式：直接检测
• 测量对象：金属元素
• 检测项目：元素分析
• 精度：0.02％
• 连续工作时间：8h
• 示值误差：0.02％
• 显示方式：屏幕
• 种类：元素分析仪
• 主机重量：1.5kg
• 准确度：98％
• 测试范围：Mg-U
• 分析时间：2S