全自动微区膜厚测试仪 天瑞EDX2000A 可对PCB,晶圆类样品做网格测试
- PCB电路板膜厚检测设备
- 全自动微区膜厚测试仪
- X射线镀层测厚仪
- 多点自动测试膜厚仪
- 上照式X射线镀层测厚仪
昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部
未认证产品介绍
- 是否支持加工定制:是
- 镀层可测范围:3锂Li--92铀U
- 元素检测范围:13铝Al--92铀U
- 同时检测元素:可同时分析24个元素,5层以上镀层
- 检出限:0.005um
- 厚度检测范围:分析镀层厚度一般在50um以内
- 厚度检测精度:RSD<3%
- 检测时间:5-40S
- Z轴升降范围:0-140mm
- 探测器:Fast-SDD半导体探测器
- 探测器分辨率:140eV
- X射线管:W靶微焦斑铜光管
- 高低压电源:大功率高压单元
- 准直器:标配0.3mm,
- 样品观察:CCD多彩摄像头,图像放大25倍
- 对焦:高度激光调节配合变焦摄像头对焦
- 仪器重量:60Kg
- 外型尺寸:485*588*505mm
- 样品室尺寸:430*400*140mm
- 可售卖地:北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆
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